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和林微纳独特的 MEMS 探针卡可形成高度精确的针痕，以实现可靠的晶圆测试，即使在175℃的严苛条件下，也能形成稳定的针痕。

2024年和林微纳温室气体清单.pdf

和林微纳目前已经实现了2D MEMS垂直探针卡从设计到生产的全流程作业，并已交付客户使用。

Kelvin双MEMS针，针间距15um

随着ICCAD-Expo 2024顺利闭幕，和林微纳非常荣幸能够与众多同行交流产品信息，讨论半导体行业的发展趋势。

Rubber Socket，即导电胶测试座，由包裹导电填料部分的特殊树脂材料构成，和橡胶一样具有弹性。与测试探针相比，不伤害芯片锡球，检测误判率更低，测试速度也更快，在Memor...

为期三天的国际电子电路（深圳）展览会（以下简称：HKPCA Show），在12月6日圆满落幕。砥砺二十二载，HKPCA Show已成为全球最具规模及影响力的PCB及电子组装展之一。

在可靠性测试中，老化测试座起着重要作用，它用于模拟芯片在长时间使用过程中的老化效应，以评估芯片的可靠性。

随着2024 SEMI大湾区产业峰会的圆满落幕，和林微纳也结束了此次意义非凡的行业盛会，有幸与各位行业精英共同探讨了半导体产业的最新动态和未来趋势。在“SEMI半导体供应链国...

C形弹性片测试方案，依靠弹性片材料本身形变，产生弹力接触被测芯片焊盘及PCB Pad；一体成型，内部无活动连接点，减少接触失效风险，可替代Pogo Pin方案，适用于QFN、DFN、...